该设备利用3D相机扫描以及深度成像技术自动检测大型芯片板上的各种不同缺陷,其中缺陷包括元器件缺失、破损、污染、错焊等
特性优势:
● 直线模组移栽PCB来回运动检测
● 相机采用龙门结构固定拍照取像
● 相机可同时采集3D和2D图像,平面缺陷和深度缺陷均可检测
● 人工手动上下料,半自动测试系统
● 高精度运动模组
技术参数:
X/Y精度:±2um; Z精度:±0.02mm
检测项目:
检测2D平面缺陷:如划伤、脏污、异物等
检测3D深度缺陷:如尺寸不良、高度不良、元器件破损、缺失、错焊等
产品应用:
半导体大型PCB缺陷检测工艺
适合量产